雷尼紹測頭掃描原理
掃描測頭
掃描測頭(雷尼紹測頭)是微型測量儀器，每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量形狀、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發(fā)式測頭類似。Renishaw提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標(biāo)測量機選用。
SP25M測頭：具有掃描和觸發(fā)式模塊的25 mm直徑掃描測頭；
SP600測頭：高性能檢測、數(shù)字化和輪廓掃描；
SP80測頭：軸套安裝式掃描測頭，用長測針提供**的性能。
掃描原理
(雷尼紹測頭)掃描測量提供了從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。
觸發(fā)式測頭可采集表面離散點，而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)，提供更詳細(xì)的工件形狀信息。因此，在實際應(yīng)用中如果工件形狀是整個誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對復(fù)雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。掃描需要根本不同的傳感器設(shè)計、機器控制和數(shù)據(jù)分析方法。Renishaw掃描測頭獨具特色的輕巧無源機構(gòu)（**達或鎖定機構(gòu)），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學(xué)測量系統(tǒng)直接（無需通過測頭機構(gòu)中的疊加軸）測量測針的變形量，以獲得更高的精度和更快的動態(tài)響應(yīng)。
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